题目内容
（请给出正确答案）
[主观题]
框架来料监控的频次为()。
框架来料监控的频次为（)。
A、1次/添加框架
B、1次/更换产品
C、1次/更换晶圆
D、1次/更换吸嘴
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A、1次/添加框架
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B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
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在突发环境污染事件的应急监测中，其采样频次的确定原则不包括
A．以最低的采样频次，求得最有代表性的样品
B．既能确切反映污染程度、范围、消减情况，又切实可行
C．事故刚刚发生不久，采样频次要多
D．待摸清变化、消减规律后，可减少采样频次
E．每小时采样1次
