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[单选题]

在X射线荧光分析中,影响定量的因素为______。

A.减弱效应和基体吸收效应;

B.减弱效应和基体增强效应;

C.增强效应和基体增强效应;

D.增强效应和基体吸收效应。

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第1题
因X荧光分析中背景很大部分可能来源于入射X射线的散射。然而元素越重散射越少,所以重元素光谱上的背景几乎无大的影响;相反在测量低浓度的轻元素时背景就成为限制因素。()
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第2题
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。()
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第3题
在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外,还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。
在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外,还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

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第4题
下列分析方法中不属于分子光谱的是( )。

A.红外吸收光谱

B.分子荧光光谱

C.核磁共振波谱

D.X射线荧光光谱

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第5题
在X射线管中,高速运动的电子与靶相撞,能够产生连续X射线,在特殊情况下也能产生()。

A.特征X射线

B.示性X射线

C.荧光辐射

D.以上都对

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第6题
X射线荧光光谱法实例中介绍了对明胶中铬的测定,该方法的检测限(灵敏度)为()mg·kg-1。

A.0.1

B.1

C.10

D.100

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第7题
下列检测器不用于x射线荧光分析中的是_____。A.正比检测器;B.闪烁检测器;C.半导体计数器;D.热导检

下列检测器不用于x射线荧光分析中的是_____。

A.正比检测器;

B.闪烁检测器;

C.半导体计数器;

D.热导检测器。

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第8题
用于陶质文物中颜料的成分分析技术有哪些()。

A.偏光显微镜

B.拉晏光谱

C.扫描电镜+能谱分析

D.X射线荧光分析

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第9题
X射线荧光分析标准添加法和稀释法中,仍需要标准和校准曲线。()
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第10题
有关X线的特性,下列哪项是错误的:()A.X线是电磁波B.在电磁辐射谱中,居γ射线与紫外线之间,比

有关X线的特性,下列哪项是错误的:()

A.X线是电磁波

B.在电磁辐射谱中,居γ射线与紫外线之间,比可见光的波长短

C.X线还具有穿透性、荧光效应、感光效应、电离效应

D.X线的穿透性是X线的成像基础

E.X线的感光效应、电离效应均是X线摄影的基础

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