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[单选题]

下列哪个不属于电子元器件参数测量仪器?()

A.Q表

B.RIC测量仪

C.频谱分析仪

D.万能电桥

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第1题
三阶系统的模拟 一、实验目的 1.在电子模拟器上建立数学模型方法。 2.三阶系统的阶跃响应性能指标超调量σ%

三阶系统的模拟

一、实验目的

1.在电子模拟器上建立数学模型方法。

2.三阶系统的阶跃响应性能指标超调量σ%与系统开环增益K的关系。

二、实验内容

1.模拟器上排出系统的模拟运算电路。

2.按阶跃响应的不同指标:σ%=5%、σ%=50%和临界稳定调整并确定相应的开环增益K值。

三、实验准备的主要内容

1.计算σ%=5%、σ%=50%及临界稳定时系统相应开环增益K值。

提示:先做出系统的根轨迹,再由σ%→ξ→arccosξ=β→K;由根轨迹与虚轴交点确定临界增益

2.由给定的系统结构图,自行设计系统的模拟运算电路图。

根据结构图给定的参数及计算出的开环增益K,选配模拟运算电路的参数R及C(见下表)。

技术指标开环增益临界增益运算放大器的R、C之值
σ%=5%
σ%=50%

四、实验设备

电子模拟器一台

慢扫描示波器一台

双线笔录仪一台(非必备仪器)

元器件接插件若干个

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第2题
电子放大器产生零漂的最主要原因是( )。

A.电源电压变化

B.元器件参数变化

C.外界因素变化

D.温度变化

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第3题
一、二阶系统的电子模拟及阶跃响应的动态分析 一、实验目的 1.学习典型环节的电子模拟方法及在电子模拟器上

一、二阶系统的电子模拟及阶跃响应的动态分析

一、实验目的

1.学习典型环节的电子模拟方法及在电子模拟器上建立数学模型的方法。

2.学习时域响应的测试方法,树立时域的概念。

3.明确一、二阶系统的阶跃响应及其性能域结构参数的关系。

二、实验内容

1.建立一阶系统的电子模型,观察并测量不同时间常数T的阶跃响应及性能指标调节时间ts

2.建立二阶系统的电子模型,观察并测量不同阻尼比ξ时的阶跃响应及性能指标调节时间ts超调量δ%。

三、实验的原理与方法

1.一阶系统

微分方程(Ts+1)Uc-Ur

传递函数

其模拟运算电路如下图所示。

由图所示

取R1=R2

则K=1,Ts=R2C

选取不同的电阻值,使T分别为0.1s、0.2s、0.5s、1s时,观测并记录阶跃响应,计算调节时间ts

2.二阶系统

传递函数

当ωn=1(rad/s)时,系统的动态结构如下图(b)所示。

根据动态结构图画出模拟运算电路下图。

若取R2C2=1,R3C3=1

为观测不同阻尼比对二阶系统的影响,可以选配不同的电阻电容值使阻尼比ξ分别为0.1、0.5、0.7、1。

观察并记录响应曲线、测量H向应性能指标调节时问ts、超调量σ%。

四、实验设备及元器件

电子模拟器一台

超低频双线长余辉示波器一台

双线笔录仪一台(非必备设备)

直流稳压电源一台

三用表一台

元器件 电容 1μF 2.2μF 4.7μF 6.8μF 10μF

可变电阻 100kΩ 470kΩ

接插件导线接线柱鱼形夹等

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第4题
下列各项中,()项不是测量振动参数一般采用的仪器组合方案。

A.加速度计+电荷放大器+记录仪

B. 磁电式拾振器+电压放大器+记录仪

C. 加速度计十电荷放大器+微型计算机+A/D 转换卡

D.电阻应变片十手持式应变仪+微型计算机

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第5题
上海某保税加工联网企业为了履行产品出口合同,动用外汇进口一批电子元器件(属于机电产品自动许可管理)用于加工装配收录机。该批商品不属于《外商投资项目不予免税的进Vl商品目录》,该批电子元器件加工产品后拟销往西亚。其中产品加工的某一工序需由浙江一家企业进行。最后剩余约5000美元料件。产品加工完工后存放于上海一家保税物流中心。请根据上述材料,回答下列问题 76~80第 76 题 下列哪些项不属于加工贸易联网监管企业申请和审批的条件?()

A.必须在海关注册,以出口为主的生产型企业

B.海关实行A类管理

C.有足够的资产或资金为本企业实行联网监管应承担的经济责任提供总担保

D.贸易型、生产型、服务型等企业单位只要符合一定条件,均可申请和审批加工联网企业

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第6题
()不属于静电对电子元器件的三种影响。

A.吸引或排斥

B.静电吸附灰尘,降低元器件绝缘电阻

C.静电放电破坏,使元件受损不能工作

D.ESD产生的电磁场幅度很大频谱极宽,对电子器件造成干扰甚至破坏

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第7题
()是用于检测风向、温度、湿度、气压和风速等气象参数的仪器。

A.电子测速仪

B.电子测温仪

C.电子气象仪

D.核放射探测仪

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第8题
常用的表面粗糙度测量仪器有哪几种?分别能测出哪种评定参数?评定范围有多大?
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第9题
如果只把交流电子仪器的电源开关关闭而不把电源线从插座拔下,是否会对附近的医用电子测量仪器带来干扰?
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第10题
JSS-4A型晶体三极管测试仪是测量中小功率晶体三极管在低频状态下的h参数和()的常用仪器。A.击穿

JSS-4A型晶体三极管测试仪是测量中小功率晶体三极管在低频状态下的h参数和()的常用仪器。

A.击穿电压

B.耗散功率

C.饱和电流

D.频率特性

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第11题
天馈驻波比测试步骤有()

A.佩戴静电护腕或佩戴防静电手套

B.设定频段和距离

C.对参数设定和校正

D.将馈线连接到仪器进行测量

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