题目内容
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[主观题]
干涉光带为( )，表明被测件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。
干涉光带为（)，表明被测件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。
(A)直带
(B)同心圆干涉带
(C)椭圆形干涉带
(D)鞍形干涉带
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点，测得各测点相对于平板工作面的高度差(μm)见图b。试按对角线平面法评定实际被测表面的平面度误差。
A.圆锥体有圆度公差要求时，其指引线箭头必须与被测表面垂直
B.圆锥体有圆跳动要求时，其指引线箭头必须与被测表面垂直
C.直线度公差的标注其指引线箭头应与被测要素垂直
D.平面度公差的标注其指引线箭头必须与被测表面垂直
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(1)画出这些基因的连锁图谱，并尽可能标出图距。 (2)有无证据表明存在干涉？
