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[单选题]

用()来通过光隙法检验方箱工作面的平面度。

A.塞尺

B.卡尺

C.平板

D.刀口形直尺

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第1题
用()通过光隙法检验方箱工作面的平面度。

A.塞尺

B.卡尺

C.平板

D.刀口形直尺

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第2题
用刀口尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,采用此法检定其间隙量一般不大于()。

A.0.010mm

B.0.005mm

C.0.003mm

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第3题
长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。

A.用刀口尺以光隙法检定

B.用平晶以技术光波干涉法分段检定

C.用自准直仪以节距法检定

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第4题
用刀口尺检定游标卡尺的平面度时,应在测量面纵、横向中间和两对角线四个方位检定。如检定时光隙在某一方位出现在中间部位,另一方位出现在两边部位时,则测量面的平面度以中间部位最大光隙量与两边部位最大光隙()确定。

A.之和

B.之和的1/2

C.之差

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第5题
深度游标卡尺尺身和尺框测量面的不平度用一级刀口足以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及()方向上进行.

A.轴向

B.径向

C.对角线

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第6题
在机修、平尺检定和平板平尺制造过程中,常用()检测平板的平面度。

A.坐标检测法

B.平尺检测法

C.光隙检测法

D.研点检测法

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第7题
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

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第8题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

A.球面干涉

B.等倾干涉

C.等厚干涉

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第9题
参看图a,在平板上以平板工作面作为测量基准,用指示表测量一个工件的平面度误差。在被测表面上等距均布9个测

点,测得各测点相对于平板工作面的高度差(μm)见图b。试按对角线平面法评定实际被测表面的平面度误差。

参看图a,在平板上以平板工作面作为测量基准,用指示表测量一个工件的平面度误差。在被测表面上等距均布9

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第10题
用校对样板来检查工作样板常用()。

A.覆盖法

B.光隙法

C.间接测量

D.综合测量

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第11题
ASON技术的最大特点是引入了控制平面,控制平面的主要功能是通过信令来支持()功能。

A.建立、拆除和维护端到端连接

B.选择最合适的路径

C.光传输

D.提供适当的名称和地址机制

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